精品！OTSUKA 高速LED光学特性监测仪 LE-A LE-A 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 LE 系列中的一款高速 LED 光学特性在线监测仪。

精品！OTSUKA 光谱干涉晶圆厚度计 SF-3/1300 SF-3/1300 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 SF-3 系列中的一款光谱干涉晶圆厚度计。

精品！OTSUKA 光谱干涉晶圆厚度计 SF-3/200 该产品采用光谱干涉法，专为半导体晶圆及硬脆材料的厚度测量而设计，适用于晶圆减薄过程监控、化合物半导体衬底检测及玻璃基板厚度管理等精密测量场景。

精品！OTSUKA 线扫描薄膜厚度计 产品采用光谱干涉测量法，结合高速高精度膜厚计算引擎，可对薄膜的整个宽度和长度方向的厚度分布进行实时监测，适用于光学膜、功能性薄膜、涂布膜等卷材生产过程中的品质控制。

精品！OTSUKA 嵌入式薄膜厚度监测仪 该产品基于光谱干涉法，可对多层薄膜进行高精度实时厚度测量，适用于半导体、FPD 及光学镀膜等制造过程中的薄膜沉积和刻蚀工艺监控。

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100S 该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于生产线上的薄膜厚度快速抽检和现场品质确认场景。

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100P 该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于卷对卷生产线上的薄膜厚度抽查、现场品质确认以及离线实验室的薄膜分析场景。

精品！OTSUKA 薄膜厚度监测仪 FE-300F 该产品采用光学干涉法，通过获取样品的绝对反射率进行薄膜厚度和光学常数的分析，适用于功能性薄膜、半导体、光学镀膜及 FPD 等相关领域。

精品！OTSUKA 显微薄膜厚度计 OPTM-A3 该型号基于反射光谱法，对微小区域的绝对反射率进行高精度分析，适用于半导体（如硅基、III-V族化合物半导体）、光学镀膜及MEMS等领域中较厚膜层或红外透明材料的膜厚与光学常数测量。

精品！OTSUKA 显微薄膜厚度计 OPTM-A1 该产品利用显微分光光度技术对微小区域进行绝对反射率测量，从而实现对单层及多层薄膜的厚度和光学常数（n, k）进行高精度分析，适用于半导体制造、平板显示、光学镀膜及材料研发等领域的薄膜工艺控制与质量检测。