精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100S
该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于生产线上的薄膜厚度快速抽检和现场品质确认场景。

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100S

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100S

SM-100S 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 SM-100 系列中的一款便携式智能薄膜厚度计。该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于生产线上的薄膜厚度快速抽检和现场品质确认场景。

测量原理与膜厚范围

SM-100S 基于反射光谱干涉法工作。测量探头向样品表面发射宽波段光，采集反射光的光谱干涉信号，通过分析干涉峰/谷的周期来计算薄膜厚度。在单层膜测量模式下，膜厚范围为 1 至 50 μm（基于样品折射率 1.6 计算），适用于常规厚度范围的薄膜检测。该型号支持 单层膜 测量，适合对膜层结构相对简单的样品进行快速厚度确认。

测量重复性与精度

在 1 μm SiO₂ 薄膜的测试条件下，SM-100S 的测量重复性为 2.1σ ≤ 0.01 μm，该精度水平可满足大多数生产现场薄膜厚度检测对数据稳定性的基本要求。

操作与显示

SM-100S 采用便携式设计，操作界面较为直观，即使手持测量也能获得稳定的测量结果。测量数据在主机屏幕上直接显示，适合现场快速判断。该型号可进行无损测量，测量光斑直径约为 φ1 mm 以下。

物理规格与电源

主机外形尺寸约为 138 mm（宽）× 198 mm（深）× 61 mm（高）（含突出部分），质量约 1.1 kg，便于携带至生产现场使用。内置电池可支持 4 小时以上 的连续测量。电源适配器支持 AC100-240V，功耗约 35VA。防护等级为 IP30 / IK06，具有一定的防尘和抗冲击能力。

同系列选型参考：SM-100P 与 SM-100S 对比

SM-100S 是 SM-100 系列中的基础型号，适合对膜厚范围在 1 至 50 μm 之间的单层薄膜进行现场快速厚度确认。其操作简便、便于携带的设计特点使其适用于需要频繁移动测量位置的生产环境。测量时需确保样品表面清洁，并与探头保持垂直以获得稳定的反射信号。对于需要测量多层膜结构或更宽厚度范围的薄膜，可选用 SM-100P。对于需要测量更微小区域（如数十 μm 级）的应用，建议选用 OPTM 系列显微薄膜厚度计。该系列产品可用于测量多种薄膜材料，包括功能性薄膜（如 PET、TAC、ITO、AR 涂层等）、半导体相关薄膜及光学镀膜。