精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100P
该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于卷对卷生产线上的薄膜厚度抽查、现场品质确认以及离线实验室的薄膜分析场景。

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100P

精品！OTSUKA 智能薄膜厚度计 SM-100P

SM-100P 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 SM-100 系列中的一款便携式智能薄膜厚度计。该产品采用反射光谱法（光学干涉法），通过手持式探头即可实现高精度无损测量，适用于卷对卷生产线上的薄膜厚度抽查、现场品质确认以及离线实验室的薄膜分析场景。

测量原理与膜厚范围

SM-100P 基于反射光谱干涉法工作。测量探头向样品表面发射宽波段光，采集反射光的光谱干涉信号，通过分析干涉峰/谷的周期来计算薄膜厚度。在单层膜测量模式下，膜厚范围为 0.1 至 100 μm；多层膜模式下，可支持最多 3 层 的厚度分析（膜厚范围 1 至 100 μm，基于样品折射率 1.6 计算），适用于光学薄膜、保护涂层等功能性薄膜的检测。

测量精度与重复性

在 1 μm SiO₂ 薄膜的测试条件下，SM-100P 的测量重复性为 2.1σ ≤ 0.01 μm，该精度水平可满足大多数常规薄膜厚度检测对数据稳定性的要求。

操作与显示

SM-100P 具备便携式设计，操作界面较为直观，即使手持测量也能获得稳定的测量结果。测量数据可通过 U 盘以文本格式导出（Pro 版标准功能），便于在 PC 上进行进一步分析和记录管理。该型号可进行无损测量，测量光斑直径约为 φ1 mm 以下。

物理规格与电源

主机外形尺寸约为 138 mm（宽）× 198 mm（深）× 61 mm（高）（含突出部分），质量约 1.1 kg，便于携带至生产现场使用。内置电池可支持 4 小时以上 的连续测量。电源适配器支持 AC100-240V，功耗约 35VA。防护等级为 IP30 / IK06，具有一定的防尘和抗冲击能力。

同系列选型参考：SM-100P 与 SM-100S 对比

测量注意事项

SM-100 系列采用手持式探头设计，适用于薄膜、涂层等的现场快速测量。测量时需确保样品表面清洁，并与探头保持垂直以获得稳定的反射信号。对于低反射率或表面粗糙度较大的样品，测量精度可能受到影响，建议在实际使用前进行测试验证。对于需要测量更微小区域（如数十 μm 级）的应用，建议选用 OPTM 系列显微薄膜厚度计。该系列产品可用于测量多种薄膜材料，包括功能性薄膜（如 PET、TAC、ITO、AR 涂层等）、半导体相关薄膜及光学镀膜。