精品！OTSUKA 高速LED光学特性监测仪 LE-A
LE-A 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 LE 系列中的一款高速 LED 光学特性在线监测仪。

精品！OTSUKA 高速LED光学特性监测仪 LE-A 

精品！OTSUKA 高速LED光学特性监测仪 LE-A 

LE-A 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社 LE 系列中的一款高速 LED 光学特性在线监测仪。该产品采用分光光度法，可与生产线控制信号同步，对 LED 的光学特性进行高速评估，适用于 LED 芯片制造过程中的分选、品级判定及不合格品剔除等质量控制场景。

测量原理

LE-A 基于分光光度法进行测量。LED 发出的光经光纤采集后导入光谱仪，通过光栅分光并由检测器阵列同时接收各波长成分，从而在短时间内获取完整的光谱数据。测量结果可用于计算色度、色温、光通量及辐射通量等光学参数，为不合格品判定和等级分类提供依据。

波长范围

LE-A 的测量波长范围为 380 至 960 nm，覆盖可见光及近红外区域，可适用于包括紫外激发芯片在内的多种类型 LED 的光谱测量。

光谱仪

光谱仪模块采用 f = 135 mm、F = 3 的光学系统，配备 闪耀全息光栅，可在 380 至 960 nm 波段内实现较为精细的分光。其全息光栅相比机械刻划光栅具有较低的杂散光水平，有利于提升弱光信号的检测准确度。检测器为 电子冷却型 CCD 图像传感器，通过热电制冷降低暗电流噪声，有助于提高弱光信号的信噪比，并改善长时间连续测量时检测器响应的稳定性。

光纤探头

采用 长约 2 m 的光纤作为光采集元件，底座直径约 φ12 mm。测量时探头通常安装在距离 LED 表面 2 至 8 mm 的位置（具体距离根据 LED 的配光特性调整），可适配单颗或阵列式 LED 的在线检测需求。

物理规格与电源

主机外形尺寸约为 280 mm（宽）× 160 mm（高）× 296 mm（深），质量约 10 kg。功耗最大可达 100VA。

同系列选型参考

LE 系列提供多种波长配置，以适应不同 LED 材料的测量需求：

• LE-A（本型号）：380–960 nm，适用于标准可见光 LED 及近红外 LED

• LE-B：220–800 nm，覆盖深紫外波段，适用于 UV-LED 测量

• LE-C：330–1100 nm，扩展至近红外，适用于 GaN 基及 InGaN 基 LED

• LE-D：350–930 nm，适用于特定 LED 材料体系的优化配置

• LE-E：800–1000 nm，专用于近红外 LED 测量

用户可根据被测 LED 的发光波长范围选择匹配型号。该产品还可与 HM/FM 系列总光通量测量系统及 GP 系列配光分布测量系统配合使用，形成从芯片到封装的完整 LED 光学特性评估方案。LE 系列专为产线集成设计，支持与生产设备控制信号同步触发测量，适用于全自动产线的在线检测需求。对于需要在研发实验室进行单颗 LED 或小批量样品高精度测量的场景，可选用大塚电子的 MCPD 系列多通道光谱仪配合积分球系统进行离线测量。