Densoku 便携式膜厚计 QNIx 8500 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 QNIx 8500 便携式膜厚计，是一款重量轻、体积小、易于现场使用的高精度膜厚测量仪器。

Densoku 电阻式膜厚计 RST-231 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 RST-231 电阻式膜厚计，是一款基于四探针电阻法原理、专用于绝缘材料上金属薄膜厚度测量的仪器。

Densoku 涡流膜厚计 DS-110 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 DS-110 涡流膜厚计，是一款基于涡流原理的便携式薄膜厚度测量仪器。

Densoku 电解膜厚计 GCT-311 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 GCT-311 电解膜厚计，是一款通过电解液对多种电镀层进行高精度膜厚测量的仪器。

Densoku 电解膜厚计 CT-3 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 CT-3 电解膜厚计，是一款通过电解液对多种电镀层进行膜厚测量的仪器。

Densoku X射线荧光膜厚计 EX-851 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 EX-851 X射线荧光膜厚计，是一款适用于原子序数22（Ti）及以上金属膜厚测量的高精度分析仪器。

Densoku X射线荧光膜厚计 COSMOS-3X 电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 COSMOS-3X X射线荧光膜厚计，是一款适用于原子序数22（Ti）及以上金属膜厚测量的高精度分析仪器。型号 COSMOS-3X 可同时测量双层及三层镀层膜厚，以及合金镀层的膜厚与成分比。