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Densoku 便携式膜厚计
  • 产品型号:QNIx 8500
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-07-02
  • 访  问  量:8
简要描述:

Densoku 便携式膜厚计 QNIx 8500
电测株式会社(Densoku Co., Ltd.)推出的 QNIx 8500 便携式膜厚计,是一款重量轻、体积小、易于现场使用的高精度膜厚测量仪器。

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产品详情

Densoku 便携式膜厚计 QNIx 8500

Densoku 便携式膜厚计 QNIx 8500

电阻式薄膜厚度计 RST-231

Densoku 便携式膜厚计
Densoku 便携式膜厚计
Densoku 便携式膜厚计
尺寸124 x 67 x 33 [毫米]
*不含凸起部分
重量3.0 千克 120 克
*不含电池

RST-231电阻式薄膜厚度计的特点

Densoku 便携式膜厚计

即使不进行薄膜校准,也可以准确测量薄膜厚度。

产品出厂时已预录16点校准数据。
这省去了繁琐的薄膜校准工作,并可精确测量薄膜厚度。

Densoku 便携式膜厚计

用于传输薄膜厚度测量数据的新技术

传统测量仪器需要通过电缆连接仪器和计算机才能传输测量数据。QNIx 系列采用“无线适配器",只需将其插入 USB 端口即可传输数据。这使得测量数据的查看更加快捷方便。

Densoku 便携式膜厚计

超轻型无线测量仪器

探头测量的数据通过无线方式传输至主机。这降低了电缆缠绕或妨碍操作的风险,也避免了传统产品常见的跌落等意外事故。此外,探头重量仅为30克,极其轻便,无需携带笨重的仪器。

Densoku 便携式膜厚计

一种耐用且不会在被测物体上留下痕迹的探针。

QNIx系列探头采用强化塑料外壳,耐用性提升30%。即使发生故障,拆卸和维修也十分便捷,从而缩短了维修时间。此外,探头配备红宝石端,可在不损伤样品的情况下进行安全测量。

免费三年质量保证

通过与德国Automation Dr.Nix公司的技术合作,我们保证提供的售后服务。我们对产品质量充满信心,因此提供三年免费保修。

*因操作不当(例如外壳损坏或电池盖丢失)、主机和探头连接错误、电池液泄漏、电池电极混用以及红宝石芯片损坏造成的损坏不在 3 年免费保修范围内。

Densoku 便携式膜厚计

QNIx系列便携式薄膜厚度计案例研究。

N公司,东京:飞机零部件、油漆薄膜

E公司,大分县:船舶和汽车零部件、油漆薄膜

QNIx系列规格对比表


 QNIx 8500QNIX
4500/4200
QNIx 7500QNIX Carcheck
系统
QNIX Handy 
可测量涂层[F] 铁质材料上的非磁性涂层。
[N] 非铁质材料上的非导电涂层。
[FN] 铁和非铁质材料上的非磁性和非导电涂层。
【FN】
铁质和非铁质材料上的非磁性和
非导电
涂层。
[FN
]铁铝材料上的
非磁性和非导电
薄膜厚度
材料识别
自动识别和交换铁质和非铁质材料

自动识别和交换铁质和非铁质材料
用户指定的转换
自动识别和交换铁质和非铁质材料
铁/有色金属,自动
识别,模式转换
测量原理[F] 磁通量(霍尔效应)
[N] 涡流
测量范围0-2,000 μm
(可选:5,000 μm)
0-3000微米0-2,000 μm
(可选:5,000 μm)
0-5,000 微米0-500微米
最高
分辨率
0.1 μm,1 μm
[M] 0.01 μm
1微米0.1微米0.1微米,1微米5微米
配置格式0 点校正
用户校准:1
[M] 100 件
零点校正零点校正无校准功能无校准功能
准确性±(1μm+2%)
±3.5%
(2mm 或以上)
[T]±
(0.3μm+2%)
±(2μm + 3%)±(1μm + 3%)±(1μm + 2%)
±3.5%
(2mm 及以上)
±(10μm + 5%)
测量速度(约 40 次/分钟)
[T] 920 毫秒
(约 65 次/分钟)
[R] 1,600 毫秒
600毫秒
 (约70次/分钟)
1300毫秒
(约46次/分钟)
1500毫秒
 (约40次/分钟)
600毫秒
(约100次/分钟)
型号(主机)RST-231型
测量原理四探针电阻法
测量范围2-24微米,10-120微米 
通道数量40个频道
数据容量100,000 个数据点
展示在电脑显示器屏幕上
统计处理最大值、最小值、平均值、标准差、直方图、上限和下限设置
电源AC100~240V,50/60Hz 10VA(主机)
尺寸280(宽)×230(深)×88(高)毫米(主机)
配件4点探针 KD-110
标准板 TCU-145



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