Densoku X射线荧光膜厚计 COSMOS-3X
电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 COSMOS-3X X射线荧光膜厚计，是一款适用于原子序数22（Ti）及以上金属膜厚测量的高精度分析仪器。型号 COSMOS-3X 可同时测量双层及三层镀层膜厚，以及合金镀层的膜厚与成分比。

Densoku X射线荧光膜厚计 COSMOS-3X

Densoku X射线荧光膜厚计 COSMOS-3X

一、产品概述

电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 COSMOS-3X X射线荧光膜厚计，是一款适用于原子序数22（Ti）及以上金属膜厚测量的高精度分析仪器。型号 COSMOS-3X 可同时测量双层及三层镀层膜厚，以及合金镀层的膜厚与成分比。产品标配数值滤波器与两种机械滤波器，可对铜上镍镀层、锌上铜镀层等相邻原子序数组合进行高精度测量。其紧凑型设计（质量48kg）与Windows控制软件ExWin，适用于电子元件、PCB及汽车零部件等行业的镀层品质管理。

二、产品规格

三、核心设计特征

1. 双重滤波系统，提升相邻元素测量精度
配备数值滤波器与两种机械滤波器（Co、Ni），即使对于原子序数相邻的基材与镀层组合（如Cu上Ni、Zn上Cu），也能实现高精度测量，有效降低元素间干扰。

2. 内置五种准直器，自动切换
标配0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 mmΦ五种准直器，可自动切换以适应不同测量区域。可选配0.05 mmΦ超细准直器及0.05×0.5 mm狭缝型准直器，满足微小区域测量需求。

3. 铍窗X射线管（可选）
可选配铍窗X射线管，配合0.05 mm小型准直器可实现高精度测量，并可用于钛（Ti）、铬（Cr）等轻元素的膜厚分析。

4. 控制软件ExWin，操作简便
通过Windows PC上的ExWin控制软件完成操作，数据可轻松导入电子表格软件及其他应用程序，便于数据管理与分析。

5. 统计处理功能
可显示和打印各种统计数据与图表，包括平均值、标准差、最大值、最小值、范围、Cp、Cpk、直方图、轮廓图及XR控制图等，满足品质管理需求。

6. 自诊断功能
具备自诊断功能，可快速排查设备故障。同时可显示X射线管的运行时间和剩余寿命，便于维护计划安排。

7. 可测量范围

四、功能应用

五、数据处理功能

• 统计信息：平均值、标准差、最大值、最小值、范围、Cp、Cpk

• 直方图显示

• 轮廓数据显示

• XR控制图

六、典型应用场景

七、选型要点

• 确认测量元素种类与膜厚范围

• 确认最大样品尺寸（170×110mm）与高度（80mm）

• 确认所需准直器最小直径（标准0.1mm，可选0.05mm）

• 确认是否需要铍窗X射线管（用于轻元素测量）

• 确认使用电源为AC100V

八、总结

电测 COSMOS-3X X射线荧光膜厚计通过双重滤波系统、五种自动切换准直器及Windows控制软件ExWin，为PCB、电子元件及汽车零部件等行业提供了一种紧凑型、高精度的膜厚测量方案。其48kg的轻量设计、自诊断功能及统计处理能力，适用于单层至三层镀层及合金镀层的膜厚与成分分析。