池田屋新品推出三光电磁/涡流涂层测厚仪 SWT-7000Ⅳ + SFN-325双探头

池田屋新品推出三光电磁/涡流涂层测厚仪 SWT-7000Ⅳ + SFN-325双探头

池田屋新品推出三光电磁/涡流涂层测厚仪 SWT-7000Ⅳ+ SFN-325双探头

摘要

池田屋实业（深圳）有限公司近日推出三光电子实验室（SANKO ELECTRONIC LABORATORY）SWT-7000Ⅳ系列电磁/涡流涂层测厚仪搭配SFN-325双探头。该组合可实现Fe（磁性金属）与NFe（非磁性金属）基材的自动识别与测量，SFN-325探头为SWT-7000Ⅳ系列专用，测量范围磁性金属0-3.00mm、非磁性金属0-2.50mm，显示分辨率1μm（0-999μm）/0.1μm（0-400μm）/0.01mm，精度0-100μm为±1μm或读数的±2%。探头采用单点接触恒压式设计，配备V形切口，适用于平面及曲面工件测量。注意：SFN-325探头仅兼容SWT-7000Ⅳ系列，不兼容SWT-7000/Ⅱ/Ⅲ系列。

正文

在涂层厚度测量中，同时需要测量铁基（Fe）与非铁基（NFe）基材的应用场景十分常见。针对不同基材的测量需求，池田屋实业（深圳）有限公司推出三光电子实验室（SANKO ELECTRONIC LABORATORY）SWT-7000Ⅳ系列电磁/涡流涂层测厚仪搭配SFN-325双探头组合。该产品现已正式供应，为Fe/NFe双基材涂层厚度测量提供自动识别的一体化解决方案。

SWT-7000Ⅳ系列 + SFN-325是三光电子实验室推出的电磁/涡流涂层测厚仪组合，SFN-325双探头具备自动（智能）设置功能，可自动识别Fe（磁性金属）和NFe（非磁性金属）基材并切换测量模式，实现铁基与非铁基工件的单探头测量[ citation:0]。SFN-325探头为SWT-7000Ⅳ系列专用，与SWT-7000、SWT-7000Ⅱ、SWT-7000Ⅲ系列不兼容[ citation:0]。

在测量范围方面，磁性金属（Fe）为0-3.00mm，非磁性金属（NFe）为0-2.50mm。基材检测支持自动或手动切换。显示分辨率根据测量值自动切换：1μm（0-999μm）、0.1μm（0-400μm）、0.5μm（400-500μm）、0.01mm（Fe 1.00-3.00mm/NFe 1.00-2.50mm）[ citation:0]。

在精度方面，0-100μm范围为±1μm或读数的±2%，101μm-3.00mm（Fe）/101μm-2.50mm（NFe）范围为±2%（探头垂直放置时）[ citation:0]。

在探头设计方面，SFN-325采用单点接触恒压式设计，配备V形切口（便于测量圆柱形工件），尺寸φ13×51mm，重量72g。可选配V型探头适配器（3种类型：小于Φ5、Φ5-10、Φ10-20）[ citation:0]。

在应用场景方面，该组合适用于铁基体上的涂层、衬里、热喷涂、电镀（电解镍电镀除外）测量，以及非铁基体上的绝缘薄膜（油漆、树脂、阳极氧化涂层等）测量[ citation:0]。

SWT-7000Ⅳ系列 + SFN-325广泛应用于涂装品质管理、电镀加工、热喷涂检测及阳极氧化膜测量等领域。三光电子实验室表示，该组合以双探头自动识别功能，为Fe/NFe双基材涂层厚度测量提供了高效便捷的解决方案。