池田屋新品推出ADC有限公司4000/4005X系列红外测温仪 4000+40051

在电子元器件开发评估与生产线检测领域，工程师对测量仪器的速度、精度、多通道能力及空间利用率提出了更高要求。针对这一市场需求，池田屋实业（深圳）有限公司推出ADC有限公司4000/4005X系列模块化红外测温仪。该系列配置为4000主机搭配40051单通道红外测温仪单元，现已正式供应，为精密电流与电阻测量提供灵活高效的解决方案。

4000+40051配置隶属于4000/4005X系列，是一款模块化组合式测量仪器。4000主机采用2U半尺寸紧凑机箱设计（高度约88mm，宽度为标准半机架尺寸），可容纳两个0.7U半尺寸模块，显著节省实验台与机架空间。主机配备USB、GPIB、LAN及RS232通信接口，支持与PC和可编程控制器连接，便于构建自动化测试系统。四通道处理器接口支持与自动化设备的时序控制，可根据模块测量与判断结果进行元器件分选。8位数字I/O配备5V/200mA电源，可实现简单的继电器控制和任意信号生成。前面板USB接口支持模块更换与运行验证，便于系统维护。

40051是一款单通道红外测温仪单元，专为4000系列双槽模块化仪器设计。该单元内置±200V/3.2mA直流电压发生器，电压产生范围为1mV至±200V，最小分辨率1mV，发生精度0.03%。电流测量范围为10fA至3.2mA，最小分辨率1fA，测量精度0.3%。输入偏置电流不超过100fA，输入电阻可选50Ω或1kΩ。通过计算可实现电阻测量，测量范围覆盖312Ω至3×10¹⁷Ω，满足从低阻到超高阻的宽范围测试需求。该单元采用积分型电流表设计，特别适合测量电容器等大容量样品的电流。

在测量速度方面，40051支持可编程积分时间设置，包括1ms、2ms、5ms、0.5PLC、1PLC、100ms及200ms等多档选择。以2ms积分时间为例，触发指数（不含接触检查）为2.6ms，触发指数（含接触检查）为4.1ms。数据存储容量达10,000个数据/通道，支持固定扫描与线性扫描模式。

40051配备了接触检查功能（C.CHK），通过电容测量判断接触状态，这一功能在测量高阻样品时尤为重要，可有效解决接触不良导致的测量误差问题。电容测量范围为0.1pF至100pF，测试频率为500kHz或315kHz，执行时间仅1.5ms。其他功能包括计算功能（RM、COMP）、四通道同步/异步测量、夹具容量开路补偿及INT校准等。

在安全设计方面，40051采用高速响应恒流限流器消除电压输出时的过冲现象，限流器设置范围为10μA至3.2mA，分辨率1μA。这一设计确保了在测量APD、ROSA等敏感器件时不会对被测样品造成额外负荷。

40051前端配备三轴输入接口，支持使用单根三轴电缆进行VSIM测量。主机后部连接器直接输出处理器接口信号，便于集成到生产线自动化设备中。标准配件包括电源线（JIS规格，2米），可选配件涵盖三轴-三轴电缆、高压三轴电缆、三轴-鳄鱼夹电缆、三轴-BNC电缆、面板安装套件及机架安装套件等多种型号。

4000+40051配置广泛应用于精密测量场景，包括APD与ROSA的I-V特性测量、电容器漏电流测试、高值电阻评估、绝缘电阻测量、电子元器件生产线检测、半导体器件特性分析及高阻测试等。ADC有限公司表示，4000/4005X系列以模块化设计与高精度测量能力，为电子测量领域提供了灵活可靠的解决方案。