池田屋精品！凯特米粒荧光透视仪简易模型 参数介绍

池田屋推出凯特（Kett）品牌米粒荧光透视仪简易模型。该产品为便携式米粒观察装置，可一次观察约100粒糙米，使碎粒更容易被识别，适用于谷物品质的快速目视检查、教学演示及日常品质评估等场景。

一、产品概述

二、物理规格

三、主要特点

碎粒识别辅助：通过透射光观察，使糙米中的碎粒更容易被识别和区分，辅助谷物品质的目视检查。

一次观察多粒：可同时放置约100粒谷物进行观察，提高检查效率。

超便携设计：尺寸仅80×90×19mm，重量仅0.1kg，可轻松携带，适合在实验室、工厂、田间等多种场所使用。

简易操作：无需复杂设定，将糙米置于观察台上即可直接观察。

低成本解决方案：作为简易模型，提供基础的碎粒观察功能，适合预算有限的用户或作为辅助教学工具。

四、典型应用场景

五、使用注意事项

• 本产品为简易观察装置，不提供定量分析数据

• 建议在光线充足的环境中使用以获得更佳的观察效果

• 避免在超出工作温度范围的环境中使用

• 使用后应清洁观察台面，避免样品残留影响下次观察

• 轻拿轻放，避免跌落造成损坏

池田屋表示，凯特米粒荧光透视仪简易模型凭借其超便携设计、一次观察约100粒的高效性及碎粒识别辅助功能，可满足谷物品质检查及教学演示等应用需求。