池田屋！TESTRAM 批量生产型RFID检测设备 T8200 Shannon
T8200 Shannon 是日本 TESTRAM 株式会社推出的一款专为批量生产设计的 RFID 检测设备。

池田屋！TESTRAM 批量生产型RFID检测设备 T8200 Shannon

池田屋！TESTRAM 批量生产型RFID检测设备 T8200 Shannon

T8200 Shannon 是日本 TESTRAM 株式会社推出的一款专为批量生产设计的 RFID 检测设备。该产品用于测量 IC 卡和 RFID 标签的谐振频率与 Q 值，支持 1 至 32 通道同步测量，单次检测仅需 0.15 秒，已在国内外的 RFID 制造工厂中得到广泛应用。

多通道同步测量

T8200 Shannon 支持 1 至 32 通道同步测量，通过多通道并行处理，可满足大规模生产环境对高吞吐量的要求。单槽机箱支持 1 通道，八槽机箱可扩展至 8 通道，配合外部切换单元最大可扩展至 32 通道，可同时对多个被测物进行检测，显著提高检测效率。

高速测量能力

单次测量时间仅为 0.15 秒（典型值）（500 个测量点，4 次平均值），高速处理能力非常适合对片材和卷材产品进行 100% 全检。

测量项目与频率范围

测量项目包括 谐振频率、衰减、Q 值 和 衰减极限测试。可选配 UID/PUPI/IDm 读取功能，支持 ISO14443A（MIFARE Classic/Ultralight）、ISO14443B（PUPI）、FeliCa（IDm）、ISO15693（Tag-it HF-I Plus/Pro、I·CODE SLIX2）等协议。频率设置范围为 1MHz 至 100MHz，射频功率（50Ω 负载）为 -30 至 +15dBm。测量点数量可在 100 至 2048 点 之间设置。

I/O 输出与生产线集成

各通道的 PASS/FAIL 判定结果可通过 I/O 输出，实现与自动化设备的无缝集成。DIO 电路为隔离式（光耦合器）输入/输出，输出端规格为 VCC=12-24V、Iout<20mA、残余电压<1V。输入端子绝对最大额定值为正向电流 50mA、反向电压 6V；输出端子为正向电压 40V、反向电压 6V、灌电流 80mA、允许功耗 100mW/通道。

CCS晰写速 SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉

NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

优势品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC

S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野

IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣

HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等