池田屋！TESTRAM 低频/高频谐振频率测试仪 T8200PRO
T8200PRO 是日本 TESTRAM 株式会社推出的一款兼容 LF（低频）和 HF（高频）频段的谐振频率测试仪。

池田屋！TESTRAM 低频/高频谐振频率测试仪 T8200PRO

池田屋！TESTRAM 低频/高频谐振频率测试仪 T8200PRO

T8200PRO 是日本 TESTRAM 株式会社推出的一款兼容 LF（低频）和 HF（高频）频段的谐振频率测试仪。该产品通过磁场耦合进行非接触式谐振频率测量，可测量谐振频率、衰减和 Q 值，并可选配 UID（标识符）读取功能，适用于 IC 卡、NFC 标签、非接触式电源线圈及超声波传感器等产品的谐振特性评估与质量检测。

测量原理与测试项目

T8200PRO 采用 磁场耦合非接触式测量方法，通过检测发射或反射电压的幅度来评估被测物的谐振特性。主要测试项目包括：

• 谐振频率：被测物的谐振点频率

• 衰减：谐振曲线的衰减特性

• Q 值：品质因数（负载 Q / 空载 Q）

• 衰减极限测试：判断衰减是否在设定范围内

• UID 读取（选配） ：支持 ISO14443A（MIFARE Classic/Ultralight）、ISO14443B（PUPI）、FeliCa（IDm）、ISO15693（Tag-it HF-I Plus/Pro、I·CODE SLIX2）等协议的 UID/PUPI/IDm 读取

频率设置范围与输出功率

频率设置范围为 10kHz 至 100MHz（标准配置），100MHz 至 1200MHz 的 UHF 输出端子在标准配置下无法使用，如有需要可联系厂家定制。施加功率（50Ω 负载）为：10kHz 至 100MHz 范围 -30 至 +15dBm，100MHz 至 1200MHz 范围最大 0dBm（典型值）。

测量点数与检测时间

测量点数量可在 100 至 2048 点 之间设置。检测时间约为：不进行 ID 读取检查时 0.5 秒（典型值）（测量点数 = 1000 时），进行 ID 读取检查时约 1 秒（典型值）。检测时间受电脑性能、检测设置及被测物特性影响。

CCS晰写速 SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉

NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

优势品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC

S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野

IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣

HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等