精品！OTSUKA 多通道光谱仪 MCPD-6800
该系统采用 1024 通道光电二极管阵列检测器，可在 5 毫秒内完成从紫外到近红外区域的光谱测量，配合光纤输入和多种选配软件，适用于发光材料评估、光学薄膜厚度测量、透射/反射光谱分析及颜色测量等场景。

精品！OTSUKA 多通道光谱仪

MCPD-6800

精品！OTSUKA 多通道光谱仪 MCPD-9800

MCPD-9800 是日本 OTSUKA ELECTRONICS（大塚电子）株式会社推出的一款高性能多通道光谱检测系统。该系统采用 1024 通道光电二极管阵列检测器，可在 5 毫秒内完成从紫外到近红外区域的光谱测量，配合光纤输入和多种选配软件，适用于发光材料评估、光学薄膜厚度测量、透射/反射光谱分析及颜色测量等场景。

检测器与波长范围

MCPD-9800 采用 1024 通道硅光电二极管阵列 作为检测元件，覆盖紫外-可见-近红外区域。根据选配光栅类型，波长范围覆盖 200 nm 至 1600 nm，提供多种波长范围和分辨率组合（如 UV-VIS 型 200-800 nm，分辨率约 0.5 nm；VIS-NIR 型 400-1100 nm；NIR 型 900-1600 nm 等）。通过内置冷却型检测器，暗电流噪声和长时间漂移得到有效抑制。

高速测量与灵敏度

该型号的最高积分时间为 5 毫秒（约 200 spectra/sec），适用于监测快速变化的发光或反应过程。1024 通道像素可在单一积分周期内同时获取全波长光谱数据，无需机械扫描，从而实现较快的全谱采集速度。系统配备内部存储区，支持波形平均和峰值保持等数据处理功能，可在不占用外部 PC 资源的情况下完成数据预处理。

输入与连接

标准配置采用 光纤输入（SMA 接口或 FC 接口），可灵活与显微镜、积分球或大型样品台连接，也可用于远距离测量。通信接口支持 USB 2.0 和 LAN（以太网），便于远程控制和数据采集。

测量功能与软件

配合专用分析软件，MCPD-9800 可实现：

• 光谱辐射/发射测量：光源色度、色温、显色指数评估

• 透射/吸收光谱：液体、玻璃、薄膜等样品的透过率测量

• 反射光谱：物体表面颜色评估（符合 JIS Z 8724 标准）

• 膜厚测量：配合反射测量附件，可分析薄膜厚度（需选配膜厚分析软件）

校准与溯源

大塚电子光学测量与评估中心已通过 JCSS（日本校准服务系统） 校准服务提供者注册（注册类别“光学"），可为 MCPD 系列仪器提供可追溯至国家标准的校准服务。该校准体系基于测量法，符合国际 MRA（相互承认协议）框架，保证了光度测量的溯源性。

物理规格与电源

主机外形尺寸约 300 mm（宽）× 200 mm（深）× 140 mm（高），质量约 5 kg。电源为 AC100-240V，50/60Hz，功耗约 50W。工作温度范围为 15 至 30°C，相对湿度 40 至 70%（无凝结）。光纤及测量附件需另行选购。

同系列选型参考

同系列中的 MCPD-6800 采用 512 通道检测器，波长范围和分辨率与 MCPD-9800 有所不同，适用于对光谱分辨率要求略低的常规测量场景，价格也相应较低。用户可根据所需的波长覆盖范围、分辨率及灵敏度要求选择匹配型号。该产品可根据客户需求进行定制系统集成，建议在选购前根据具体样品和测量目标与厂家沟通配置方案。