现货！JIMA 分辨率测试卡 RT RC-05B
JIMA（日本检测仪器制造商协会）推出的RT RC-05B型分辨率测试卡，采用半导体光刻技术制作，用于校准和监控微焦点或纳米焦点X射线系统的分辨率。

在微焦点X射线检测系统的应用中，系统分辨率的精准度直接影响检测结果的可靠性。JIMA（日本检测仪器制造商协会）推出的RT RC-05B型分辨率测试卡，采用半导体光刻技术制作，用于校准和监控微焦点或纳米焦点X射线系统的分辨率。该测试卡通过可视化的线对/空间（L/S）图案，帮助用户量化评估系统的最小可分辨尺寸，适用于电子元器件、半导体封装及精密铸件等无损检测场景。

一、 产品基本规格参数

JIMA RT RC-05B分辨率测试卡的主要技术指标如下：

二、 技术特点与操作说明

RT RC-05B的图案布局覆盖3-50µm的线宽范围，通过T型（3-10µm）和I型（15-50µm）两种布局排列。使用时，将保护膜面朝向X射线源方向放置，通过观察能够分辨的最小线对尺寸，评估系统的分辨率能力。

该测试卡采用金作为吸收体材料，厚度大于1.0µm，对X射线具有较高的吸收效率，适合微焦点X射线系统成像。每个线对组由3条线（2个空间）构成，便于在X射线图像中清晰辨识。

三、 使用与保存注意事项

• 请勿拆卸铝基座，否则将无法保持测试卡的性能，且拆卸后无法重新组装。

• 存放时应避免高温高湿环境，建议存放于干燥器中。

• 请勿触摸保护膜表面，如保护膜剥落可能损坏内部狭缝图形。

• 避免对测试卡施加物理冲击，冲击后可能导致测试图形受损。

• 该测试卡为消耗品，不可维修或重新组装。

• 如表面有灰尘附着，请使用镜头用气吹清洁，不可刮擦或损伤内部图形。

四、 典型应用场景

• 工业X射线无损检测：用于电子元器件、半导体封装、铸件、焊点等的微焦点X射线检测系统分辨率校准与验证。

• 科研与实验室：用于X射线成像系统的性能验证与对比分析。

• 设备维护与验收：用于X射线检测设备的定期性能验证与故障排查。

如需获取该型号的详细操作手册、选型支持或采购信息，可通过池田屋实业提供该型号产品的供应及相关技术咨询服务。