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现货！USHIO 分离型紫外线受光器 UVD-S405
现货！USHIO 分离型紫外线受光器 UVD-S405
USHIO（牛尾）电机株式会社推出的 UVD-S405 分离型紫外线受光器，是 UIT 系列紫外线照度计/积算光量计的核心传感部件。型号 UVD-S405 为分离式（Separate Type）设计，感度波长域 320-470nm，中心波长 405nm，照度测量范围 0.0～999.9 mW/cm²（H 量程），积算光量测量范围 0～9999.9 mJ/cm²（H 量程）。该受光器需配合 UIT-250/UIT-201 等主机使用，适用于 UV 固化、印刷、半导体光刻、UV 杀菌等领域的紫外线强度监测。
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 型号 | UVD-S405 |
| 类型 | 分离式（Separate Type）受光器 |
| 感度波长域 | 320 ～ 470 nm |
| 中心波长 | 405 nm |
| 受光径 | φ1 mm |
| 照度测量范围（H/M/L） | H：0.0～999.9 mW/cm² M：0.00～99.99 mW/cm² L：0.000～9.999 mW/cm² |
| 积算光量测量范围（H/M/L） | H：0～9999.9 mJ/cm² M：0.0～999.99 mJ/cm² L：0.00～99.999 mJ/cm² |
| 校正精度 | ±5% |
| 非直线性 | ±1% 以内 |
| 使用温度范围（受光器） | 0 ～ 50℃ |
| 温度依存性（代表值） | -0.2%/℃ |
| 角度依存性 | 符合 cosθ 特性（约 ±10%） |
| 适用主机 | UIT-250、UIT-201 等 UIT 系列主机 |
1. 405nm 中心波长对应
专为 405nm 波段的 UV-LED 光源及高压汞灯的 i 线（365nm）附近紫外线测量设计，适用于 UV 固化、光刻等工艺。
2. 宽广的测量范围
3 段量程切换（H/M/L），照度最大可测至 999.9 mW/cm²，积算光量最大可测至 9999.9 mJ/cm²。
3. 分离式设计
受光器与主机分离，可通过延长电缆（标准 2m，可选）将受光器独立安装于测量位置，避免主机受热或空间限制。
4. 高精度校正
出厂时以 405nm 为标准进行绝对波长校正，校正精度 ±5%，确保测量准确性。
5. 优异的角度依存性
角度依存性约 ±10%，接近理想的 cosθ 特性，减少入射角变化引起的测量误差。
6. 温度补偿功能
内置温度补偿回路，温度依存性 -0.2%/℃，可在 0～50℃ 范围内稳定测量。
| 主机型号 | 类型 | 测量功能 | 适用受光器 |
|---|---|---|---|
| UIT-250 | 积算光量计 | 照度、峰值照度、积算光量、照度分布、温度 | UVD-S405 |
| UIT-201 | 照度计 | 实时照度 | UVD-S405 |
| UIT-θ365 | 紫外线照度计 | 实时照度、配光分布 | UVD-S405（需另配） |
| 应用领域 | 说明 |
|---|---|
| UV 固化系统 | 监测 UV-LED 固化设备的输出强度及能量 |
| 印刷行业 | UV 油墨固化过程的强度监控 |
| 半导体光刻 | i 线（365nm）曝光设备的照度测量 |
| LCD/OLED 制造 | 光取向工艺的 UV 光量管理 |
| UV 杀菌/消毒 | UV-C 杀菌灯管的输出强度监测 |
| 实验室研究 | UV 光源的强度测试和验证 |
波长匹配：确认 UV 光源的中心波长是否在 320-470nm 范围内（405nm 为中心波长）
受光径：φ1mm 的小口径适用于微小区域或点光源的测量
主机兼容性：确认是否适配 UIT-250 或 UIT-201 主机
安装环境：确认受光器使用温度是否在 0～50℃ 范围内
UVD-S405 为受光器单品，需配合 UIT 系列主机使用，无法独立工作
受光器在长时间 UV 照射下性能可能劣化，建议定期校准
受光器表面污染会影响检测精度，应保持清洁
使用延长电缆时，长度增加可能影响信号精度
建议使用原厂配套电缆和配件以确保性能
USHIO UVD-S405 分离型紫外线受光器通过 405nm 中心波长对应、3 段量程切换及分离式设计，为 UV 固化、印刷、半导体光刻等应用提供了一套高精度、高稳定性的紫外线强度监测解决方案。其 φ1mm 的小口径受光面及优异的温度特性，适用于需要精确测量 405nm 波段 UV 光源的工业制造和科研实验场景。
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