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SANKO三高 X射线荧光涂层厚度测试仪 EX-731
SANKO三高 X射线荧光涂层厚度测试仪 EX-731
池田屋推出三光电子实验室（Sanko Electronic Laboratory）品牌EX-731型X射线荧光涂层厚度测试仪。该产品采用顶部垂直照射法，配备微焦点X射线管，可对长条状物体及多种基材上的镀层厚度进行非破坏性测量，并通过Windows软件实现数据可视化与报表功能。
一、产品概述
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 产品名称 | X射线荧光涂层厚度测试仪 |
| 型号 | EX-731 |
| 品牌 | 三光电子实验室 |
| X射线源 | 微焦点X射线管（靶材：钨） |
| 管电压 | 50kV |
| 照射方式 | 顶部垂直照射法 |
| 探测器 | 比例计数器 |
| 样品观察 | CCD彩色相机 |
| 载物台尺寸 | 240mm × 220mm（手动170mm × 110mm） |
| 最大样品高度 | 50mm（手动80mm，可选150mm） |
| 主机尺寸（宽×深×高） | 600mm × 465mm × 754mm |
二、可测量范围（按原子序数）
| 原子序数范围 | 测量范围 |
|---|---|
| 22～24（Ti、V、Cr） | 0.02～约20μm |
| 25～40（Mn～Zr） | 0.02～约30μm |
| 41～51（Nb～Sb） | 0.02～约70μm |
| 52～83（Te～Bi） | 0.01～约10μm |
三、核心特点
长条状物体测量对应：两侧设有狭缝，可测量长条状物体（如线材、带材等）。
镀层附着力分布可视化：显示器屏幕可显示被测物体上镀层附着力的分布情况，便于直观分析。
Windows软件支持：采用Windows®软件，可增强报表功能，便于数据管理和报告生成。
微焦点X射线管：配备微焦点X射线管（靶材：钨），管电压50kV，实现高精度测量。
顶部垂直照射法：采用顶部垂直照射方式，适用于多种形状样品的测量。
CCD彩色相机观察：配备CCD彩色相机，可清晰观察测量位置。
宽范围可测元素：可测量原子序数22至83的多种元素镀层，覆盖Ti至Bi的广泛范围。
四、典型应用场景
| 应用领域 | 具体用途 |
|---|---|
| 电镀行业 | 镀金、镀银、镀锡、镀镍等厚度测量 |
| PCB制造 | 电路板镀层厚度检测 |
| 电子元件 | 连接器、引线框架镀层测量 |
| 汽车零部件 | 镀锌、镀铬层厚度分析 |
| 线材/带材 | 长条状物体镀层厚度测量 |
| 贵金属检测 | 金、银、铂等贵金属镀层测量 |
五、使用注意事项
本产品为X射线装置，使用时需遵守辐射安全规定
测量前需根据被测元素选择适当的测量条件
长条状样品可通过两侧狭缝进行测量
样品最大高度50mm（手动80mm，可选150mm）
建议定期进行仪器校准以确保测量精度
操作人员需接受X射线安全操作培训
池田屋表示，三光电子实验室EX-731型X射线荧光涂层厚度测试仪凭借长条状物体测量对应、镀层分布可视化及Windows软件支持，可满足电镀、PCB及电子元件行业对镀层厚度的精确测量需求。
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