SANKO三高 电阻涂层厚度测试仪 RST-231
该产品采用四探针（开尔文型）电阻测量方式，可在约0.7秒内高精度测量绝缘体上的金属薄膜（铜箔、印刷电路板镀层等），适用于双面板和多层板测量。

SANKO三高 电阻涂层厚度测试仪 RST-231 

SANKO三高 电阻涂层厚度测试仪 RST-231 

池田屋推出三光电子实验室（Sanko Electronic Laboratory）品牌RST-231型电阻涂层厚度测试仪。该产品采用四探针（开尔文型）电阻测量方式，可在约0.7秒内高精度测量绝缘体上的金属薄膜（铜箔、印刷电路板镀层等），适用于双面板和多层板测量。

一、产品概述

二、核心特点

四探针（开尔文型）电阻测量：采用四探针电阻测量方式，可高精度测量双面板和多层板上的金属薄膜厚度，不受背面或内部层的影响。

高速测量：约0.7秒即可完成单次测量，适合批量检测和生产线应用。

大屏幕PC显示：连接电脑后使用大尺寸、高亮度显示屏，数据查看清晰直观。

双量程切换：可选择2～24μm和10～120μm两种量程，适应不同厚度范围的测量需求。

多通道管理：最多可注册40个通道，可通过用户名、零件编号等方式分别注册和管理各通道。

数据存储与统计：可保存每个通道的测量数据（最多100,000条），支持最大值、最小值、平均值、标准差、直方图等统计处理，可设定上下限对异常值发出通知。

易于校准：校准操作简便，可快速完成测量准备。

三、典型应用场景

四、使用注意事项

• 适用于绝缘基材上的金属薄膜厚度测量

• 测量前需根据预估厚度选择合适量程

• 四探针测量需确保探针与测量面良好接触

• 数据可通过PC进行管理和统计分析

池田屋表示，三光电子实验室RST-231电阻涂层厚度测试仪凭借四探针高精度测量、高速响应及多通道数据管理功能，可满足PCB制造及电镀行业对金属薄膜厚度的精确测量需求。