现货！池田屋 JIMA分辨率测试卡 RT RC-05B
RT RC-05B是日本检查机器工业会（JIMA，一般社团法人）推出的微焦点X射线分辨率测试卡。

现货！池田屋 JIMA分辨率测试卡 RT RC-05B 

现货！池田屋 JIMA分辨率测试卡 RT RC-05B 

一、产品概述

RT RC-05B是日本检查机器工业会推出的微焦点X射线分辨率测试卡。该产品采用半导体光刻技术制作，内置高精度金吸收体线对图案，专用于微焦点及纳米焦点X射线检测系统的分辨率校准与图像质量监控。

二、核心参数

数据来源：

三、材质与工艺特性

• 吸收体材质：采用厚度≥1.0 μm的金（Au）作为线对吸收材料，具备优异的X射线吸收能力与耐辐射稳定性

• 基板材质：硅基板尺寸为8×8×0.2 mm，表面覆盖0.05 mm厚聚酯保护膜

• 制作工艺：采用半导体光刻技术制造，线对边缘精度高，图案尺寸经SEM（扫描电子显微镜）多点测量验证，并随附认证文件

四、功能与应用说明

本产品支持3 μm至50 μm的分辨率测量范围，对应焦斑尺寸约为6 μm至100 μm。线对图案采用T型布局（3-10 μm）与I型布局（15-50 μm）组合设计，适用于各类微焦点X射线检测系统的分辨率评估与日常校准。

主要应用领域：

• 电子制造：PCB焊接缺陷检测、半导体封装内部结构分析

• 航空航天：轻质合金铸件内部气孔与裂纹探测

• 汽车工业：发动机零部件、电子控制单元的无损检测

• 材料科学：复合材料内部结构与失效分析